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激光粒度仪
Amerigo高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪
麦哲伦(MAGELLAN)痕量纳米颗粒分析仪
Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪
Vasco纳米粒度分析仪
Xigo Drop浆料颗粒及乳液表面特性分析仪
Xigo Area润湿比表面分析仪
Litesizer™ 500纳米颗粒及Zeta电位分析仪
欧奇奥粒度/粒形/计数/颜色分析仪Scan700
欧奇奥IPAC1蛋白质聚集体成像计数分析仪
高温物料粒度粒形分析仪
电化学仪器
MultiCAD电导率测定仪
DT-700非水电导率测定仪
法国Bio-logic多通道电导率测定仪
Bio-logic堆栈测试用电子负载
研究级单通道恒电位仪/恒电流仪
多通道电化学工作站
法国Bio-logic强电流恒电位仪
电化学工作站/电池测试仪
单通道恒电位仪/恒电流仪(电化学工作站)
经济型单通道恒电位仪/恒电流仪
粘度计
光学流变系统RheOptiCAD
混凝土流变仪RheoCAD500
在线粘度检测仪
DT-600超声流变分析仪
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固体表面Zeta电位/流动电流电流分析仪
固体表面Zeta电位分析仪
流动电位法Zeta电位分析仪
光谱检测分析仪
振动圆二色光谱(VCD)
MOS-500圆二色光谱仪
其他
RUFUTO-871介电常数测定仪
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产品系列
Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析是新一代动态光散射纳米粒度分析仪,通过远程光学探头,进行原位非接触测量和反应动力学,用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。常用于实时纳米颗粒合成过程监控, 核反应堆内现场测量,与其它粒度特性测量仪器联用(如光谱仪、SAXS等)。
粒度测量范围 : 0.5nm 到 10μm
背向动态光散射原理,实时远程非接触测量
监测纳米颗粒合成过程;监测整个过程的粒度变化情况,有助于稳定性研究
全自动非接触测量:能穿透玻璃和塑料针管,测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化
适用样品浓度:0.1ppm-40%(w/v)
时间分辨: DLS的分辨率为0.2s,用于动力学监测
随时间变化的粒度分布彩色地形图
“时间切片”功能:用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析
样品前处理:无需样品前处理,直接测试
硬件规格(核心单元):
1. 激光源: 高稳定性激光二极管(可选蓝光和绿光)
2. 探测器: 无伪影雪崩光电二极管(APD)
3. 计算设备: 内嵌专用电脑
4. 数据处理: NanoKin® 相关和分析软件
5. 典型测量时间:*快200ms。测量时间由样品和测量设置决定
6. 操作条件/存储条件:15℃ ~ 40℃ / -10℃ ~ 50℃ – 非冷凝相对湿度 < 70%
7. 尺寸/重量: 220 x 220 x 64 mm (上半部分) / 2.5 kg
220 x 220 x 48 mm (下半部分) / 2.8 kg
Nano Kin™软件的主要特点:
- 三个层级登录配置文件:管理员、专家、操作员
- 运行模式:包括测量、模拟、后分析(导入)
- 直观导航(顺序)
- 时间切片和动力学模式:独特的技术,允许监测快速动力学和/或准确的再现性测量(时间分辨率高达200毫秒)。
- 可读数据和绘图:
- 动态导出数据/绘图(右键单击到剪贴板)
- 报告文件格式:.pdf或.rtf(兼容writer软件)
- 反转算法:
- CUMULANTS 累积量算法:用于具有单分散趋势的单峰样品
- PADE-LAPLACE算法(专有):多峰样品的离散数学方法。
- 稀疏贝叶斯学习算法(SBL;专有):多峰样品的连续分布数学方法。对于所期望的分布斜率不需要先验知识,正则化参数自学习概率计算模块。